ورود و عضویت
0
سبد خرید شما خالی است

تکنیک های پراش با زاویه کوچک (SAS)

مشاهده پیش نمایش

گزارش تخلف
70,000تومان
0فروش موفق
محصول مورد تایید است
محصول ویژه است
محصول دارای هدیه می باشد
0 فروش 0 دانشجو

فهرست
<table>
<tbody>
<tr>
<td width=”511″>مقدمه</td>
<td width=”79″>۴</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>چکیده</td>
<td width=”79″>۶</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>فصل اول تکنیک های پراش با  زاویه کوچک<strong>(SAS)</strong></td>
<td width=”79″>۷</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۱-۱- تکنیک های پراکندگی زاویه کوچک<strong> (SAS) </strong></td>
<td width=”79″>۸</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۲-۱- پخش (ارسال) نوری:</td>
<td width=”79″>۱۷</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۳-۱- ارسال نوترون زاویه کوچک( <strong>(SANS</strong></td>
<td width=”79″>۲۱</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>فصل دوم تئوری <strong>SAXS</strong></td>
<td width=”79″>۲۴</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۱-۲- قانون <strong>Guinier</strong> و شعاع دوران</td>
<td width=”79″>۲۹</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۲-۲- تداخل بین ذره ای <strong>(Interparticle Interference)</strong></td>
<td width=”79″>۳۱</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>فصل سوم تجهیزات<strong> (SAXS)</strong></td>
<td width=”79″>۳۳</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۱-۳- تجهیزات آشکارسازی شمارنده ای</td>
<td width=”79″>۳۴</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۱-۱-۳- دیفرکتومتر چهار شکافی <strong>(Four –Slit diffractomter)</strong></td>
<td width=”79″>۳۵</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۲-۳- دوربینهای شناسایی فتوگرافیکی</td>
<td width=”79″>۳۷</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۱-۲-۳- دوربین <strong>kratky</strong></td>
<td width=”79″>۳۸</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۳-۳- تجهیزات سیستم <strong>SAXS</strong> نصب شده در شرکت مترولوژی (<strong>UMASS</strong>)</td>
<td width=”79″>۴۲</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۱-۳-۳- منبع تشعشع</td>
<td width=”79″>۴۲</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۲-۳-۳- جداسازی و برد <strong>q</strong>:</td>
<td width=”79″>۴۴</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۳-۳-۳- آشکارسازهای سطح:</td>
<td width=”79″>۴۹</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۴- ۳-۳- محفظه های مربوط به نمونه:</td>
<td width=”79″>۵۳</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۵-۳-۳- سیستم خلاء</td>
<td width=”79″>۵۵</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۶-۳-۳- سکوئی برای سیستم نصب:</td>
<td width=”79″>۵۵</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۷- ۳-۳- سیستم ایمنی:</td>
<td width=”79″>۵۵</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۸-۳-۳- الکترونیک و اینترفیس (واسطه) کامپیوتری:</td>
<td width=”79″>۵۶</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۹- ۳-۳- نرم افزار آنالیز داده ها</td>
<td width=”79″>۵۷</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۱۰-۳-۳- تجهیزات جانب یبرای عملکرد بهینه:</td>
<td width=”79″>۵۸</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۱۱- ۳-۳- گزینه ها:</td>
<td width=”79″>۵۹</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>فصل چهارم شرایط و دستورالعمل آزمایشگاهی</td>
<td width=”79″>۶۰</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۱-۴- تکفام کنندگی و انتخاب طول موج</td>
<td width=”79″>۶۱</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۲-۴- تنظیم و ساخت شکاف <strong>(slit)</strong></td>
<td width=”79″>۶۱</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۳-۴- خلاء لازم</td>
<td width=”79″>۶۲</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۴-۴- روش آشکارسازی</td>
<td width=”79″>۶۲</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۵-۴- آماده سازی نمونه ها</td>
<td width=”79″>۶۳</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۶-۴- نمونه ها</td>
<td width=”79″>۶۳</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۷-۴- نمونه های استاندارد</td>
<td width=”79″>۶۳</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>۸-۴- زمان آنالیز</td>
<td width=”79″>۶۴</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>فصل پنجم تصحیح داده ها</td>
<td width=”79″>۶۵</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>فصل ششم آنالیز داده های <strong>SAXS</strong></td>
<td width=”79″>۶۷</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>فصل هفتم کاربرد <strong>SAXS</strong></td>
<td width=”79″>۷۱</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>فصل هشتم مزایا و معایب روش <strong>SAXS</strong></td>
<td width=”79″>۷۴</td>
</tr>
<tr>
<td width=”511″>منابع:</td>
<td width=”79″>۷۶</td>
</tr>
</tbody>
</table>
<strong><em> </em></strong>

مقدمه

ذرات فلزی با اندازه نانو نقش مهمی را در مهندسی مواد ایفا می کنند چون که ویژگیهای ذرات با اندازه نانو با ویژگیهای بقیه مواد متفاوت است <strong><em>]</em></strong>۱<strong><em>[</em></strong>

توزیع اندازه ذرات نانو با استفاده از تکنیک میکروسکوپ <strong><em>TEM</em></strong> قابل اندازه گیری است <strong><em>TEM</em></strong> یک تکنیک فوق العاده مفید برای حصول اطلاعاتی نظیر توزیع اندازه ذره ، اندازه متوسط ذره و شکل ذرات نانو است <strong><em>]</em></strong>۱<strong><em>[</em></strong>

اندازه گیری <strong><em>TEM</em></strong> نیاز به عملیات پیچیده برای آماده سازی نمونه و مهارت بالای اپراتور دارد و زمان اندازه گیری طولانی است بعلاوه تکنیک <strong><em>TEM</em></strong> یک روش اندازه گیری در محل <strong><em>(In situ)</em></strong> نیست و تعداد ذرات اندازه گیری شده از فتوگراف ، در اغلب موارد از اندازه گیریهای تئوریکی کمتر است <strong><em>]</em></strong>۱<strong><em>[</em></strong>

بنابراین اکثر محققان در ارتباط با نانو تکنولوژی در جستجوی یک روش مناسب و یک روش <strong><em>In situ</em></strong>  برای اندازه گیری توزیع ذرات نانو بودند این روشها بر اساس پراکندگی در زوایای کوچک استوار بود <strong><em>]</em></strong>۱<strong><em>[</em></strong>

<strong><em>Small-angle scattering =SAS</em></strong>

<strong><em>SAX</em></strong>  در واقع یک نام کلی است که برای مجموعه ای از تکنیکهای زیر بکار می رود<strong><em>]</em></strong>۲<strong><em>[</em></strong>

<strong><em>Small-angle Light Scattering (SALS)</em></strong>

<strong><em>Small-angle x-Ray scattering (SAXS)</em></strong>

<strong><em>Small-angle Neutron scattering (SANS)</em></strong>

در تمامی تکنیکهای فوق پراکندگی بصورت الاستیک بوده و اطلاعاتی در خصوص اندازه، شکل و توزیع ذرات بدست می آید تفاوت کلی تکنیکهای فوق در منبع تابش است که بر فاکتورهای زیر مؤثر است :

الف ) تفاوت در نمونه هایی که می توانند آنالیز شوند

ب ) تفاوت در بخش های قابل بررسی

ج ) تفاوت در اطلاعات نهایی حاصل <strong><em>]</em></strong>۲<strong><em>[</em></strong>

نقد و بررسی‌ها

هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.

اولین کسی باشید که دیدگاهی می نویسد “تکنیک های پراش با زاویه کوچک (SAS)”

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

preloader